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JET300NT捷智ICT機器快捷鍵
日期：2025-09-30 18:40
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摘要：
JET300NT捷智ICT機器快捷鍵
快捷鍵如下：
存儲檔案F3
離開F12
單項測試F9
整頁測試ALT+F9
元件編輯器CTRL+E
開短路編輯器CTRL+P
IC編輯器CTRL+I
不測點編輯CTRL+S
GPIB指令編輯CTRL+G
不測F2
A.B點對調(diào)G5
長條圖F6
**隔離點F4
自動存照隔離點F10
刪除一行ALT+F7
增加一行ALT+F8
回復(fù)上一次CTRL+X
編輯補償值A(chǔ)LT+O
編輯特殊開關(guān)碼ALT+K
復(fù)制項目ALT+C
移動項目ALT+M
設(shè)定區(qū)間ALT+L
**區(qū)間ALT+U
**補償值CTRL+O
移至**項目ALT+R
移至不測項目CTRL+ALT+K
復(fù)制測試值到標準值A(chǔ)LT+Z
復(fù)制平均值到標準值CTRL+Z
區(qū)間編輯CTRL+F
尋找ALT+F
尋找下一個CTRL+N
排序ALT+S
取鄰近點測試CTRL+ALT+S
IC保護二極體功能產(chǎn)生器ALT+I
TEST JET功能產(chǎn)生器ALT+X
IC SCAN功能產(chǎn)生器ALT+W
電容補償值自動學(xué)習(xí)ALT+Y
編輯學(xué)習(xí)范圍CTRL+D
尋找探針點號ALT+P
自動校正ALT+D
自動校正（當校正*大/區(qū)快）CTRL+ALT+D
相關(guān)點資訊ALT+H
測試點位置ALT+N
元件位置ALT+E
顯示并聯(lián)的元件ALT+J
測試模式說明CTRL+H