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AOI的性能及特點(diǎn)
日期：2025-09-29 20:13
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摘要：
AOI的性能及特點(diǎn)
一、AOI能檢測(cè)什么？
答：AOI的檢測(cè)覆蓋整個(gè)SMT制程缺陷，分別為：印刷**、貼片**和回流爐（波峰焊接）**。因?yàn)锳OI相機(jī)不能透視，所以，BGA屏蔽罩下面的元器件就不能進(jìn)行檢測(cè)，另外不同機(jī)型所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)精度也步一樣，以ALeader為例，ALD-H-600分辨率為20um，能對(duì)應(yīng)的*小元件為：0201，那么如果出現(xiàn)更小的譬如1005的元件也是無(wú)法進(jìn)行檢測(cè)的。
二、AOI為什么會(huì)有誤判和漏測(cè)？
答：AOI檢測(cè)是通過(guò)圖像比對(duì)來(lái)判別其OK或者NG的，圖像進(jìn)行對(duì)比的時(shí)候，AOI會(huì)給元件一個(gè)對(duì)比的誤差值，也就是允許誤差范圍，如果AOI給的范圍是5%，那么當(dāng)對(duì)比的值小于5%既是合格的，大于5%則為NG，如果我們將該范圍設(shè)定過(guò)于**，那么AOI對(duì)比也相對(duì)嚴(yán)格，因此誤判隨之升高，反之，我們放寬誤差范圍，那么AOI也隨即放寬了對(duì)比的精度，這樣就必然導(dǎo)致漏測(cè)。在AOI行業(yè)來(lái)說(shuō)，誤判和漏測(cè)是對(duì)立矛盾的，如同一個(gè)硬幣的兩面，我們只能在硬幣樹(shù)立的時(shí)候均勻的滿足兩方條件。
三、AOI為什么不能達(dá)到100%的檢測(cè)精度呢？
答：AOI作為一種替代人工目檢的機(jī)械人，固然會(huì)有機(jī)械原因?qū)е碌墓收?，就好比貼片不能做到不飛料、不漏料，印刷機(jī)也不能滿足所有的點(diǎn)都不少錫、爐子不能滿足所有焊點(diǎn)都完好是一個(gè)道理，因?yàn)槭菣C(jī)械所以不能時(shí)刻保持100%的精度。
AOI的性能及特點(diǎn)
AOI的性能及特點(diǎn)
疑問(wèn)：您能解釋下要多長(zhǎng)時(shí)間以及要調(diào)試多少塊板，調(diào)試時(shí)間/板和FPPM/漏測(cè)得關(guān)系是什么？然后我們希望在誤判和漏測(cè)中能有個(gè)平衡，我們不想看到漏測(cè)低而誤判高。還請(qǐng)解釋下低CPK和GR＆Ｒ的原因．
1.一個(gè)穩(wěn)定的AOI測(cè)試程序需要滿足多少塊板的學(xué)習(xí)？
答：實(shí)際上，AOI測(cè)試程序需要滿足多少塊板的學(xué)習(xí)，關(guān)鍵取決于板上的元件類型和元件多少，通常，一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)需要滿足至少100次的學(xué)習(xí)，如果一塊板上同一個(gè)料有100個(gè)，那么這一個(gè)料通過(guò)這一塊板的學(xué)習(xí)就完成了。但是，有些料每塊板上可能只有一個(gè)或者兩個(gè)，因此需要學(xué)習(xí)多塊板，統(tǒng)計(jì)建模的基數(shù)為24，因此，我們能保證每個(gè)程序?qū)W習(xí)20~30塊板就算是合格了。
2.誤判率，漏判率，直通率的概念和ALeader的誤判率和漏判率是多少？
答：誤判與漏判是矛盾對(duì)立的。一般是在調(diào)到一個(gè)比較平衡的點(diǎn)。即在保證不漏判的情況下降低誤判。在行業(yè)中沒(méi)有明確有關(guān)于AOI的誤判率和漏判率是多少為合理。它與機(jī)器的性能，所測(cè)試的板的工藝，所編輯程序的好壞有關(guān)系。以下舉例說(shuō)明：
| 測(cè)試板數(shù)pcb | Pass的板數(shù)pcb | 每片點(diǎn)數(shù) 點(diǎn)/Pcb | 漏測(cè) | **點(diǎn)數(shù) | **率ppm | 直通率 | 誤判率 ppm | 漏判率 ppm | ||
| 總的 | 誤判 | 總的 | 實(shí)際的 | |||||||
| 100 | 70 | 100 | 2 | 60 | 30 | 60/（100*100）*1000000=6000 | （60-30）/（100*100）*1000000=3000 | 70/100*100%=70% | 30/（100*100）*1000000=3000 | 2/（100*100）*1000000=200 |
我們經(jīng)過(guò)*嚴(yán)格的測(cè)試，得到ALeader的誤判率為500PPM，漏判率為50PPM（按AOI的點(diǎn)數(shù)）。
疑問(wèn)：按照常理的話,應(yīng)該是FOV的中間點(diǎn)的偏移小,四周的大,但是從你們的數(shù)據(jù)看,偏移都是一樣的,請(qǐng)解釋原因.
解答:
1.所有的光學(xué)鏡頭,均存在一定程度的變形(桶狀變形或枕狀變形),價(jià)格差異也很大.在選擇鏡頭時(shí),我們經(jīng)過(guò)大量試驗(yàn)和比對(duì),選擇了變形較小的鏡頭.
2.我們的AOI有一套比較科學(xué)和合理的標(biāo)定系統(tǒng),通常的AOI在標(biāo)定鏡頭時(shí)只測(cè)量相機(jī)的安裝角度和一個(gè)放大比例,而我們的標(biāo)定系統(tǒng),采用高斯數(shù)學(xué)模型,用高次方進(jìn)行數(shù)學(xué)擬合,可以得到FOV內(nèi)每個(gè)像素對(duì)應(yīng)的實(shí)際坐標(biāo)(mm).這樣的計(jì)算方法可以非常**地校正相機(jī)變形,并且測(cè)試相機(jī)安裝角度和實(shí)際比例.
3.客戶得到的測(cè)試數(shù)據(jù),實(shí)際上是經(jīng)過(guò)AOI內(nèi)部的標(biāo)定系統(tǒng)校正后的數(shù)據(jù). 如果不經(jīng)過(guò)標(biāo)定校正,圖像中間的偏移量同四周是不同的.如果中間的偏移大,則鏡頭存在桶狀變形,如果中間的偏移小,則存在枕狀變形.
總而言之：一是ALeader采用了變形較小的鏡頭,二是ALeader AOI系統(tǒng)采用了比較科學(xué)的標(biāo)定算法才會(huì)有如此測(cè)試結(jié)果.
AOI的性能及特點(diǎn)
名詞解釋：相機(jī)標(biāo)定：相機(jī)標(biāo)定是令相機(jī)準(zhǔn)確抓取圖像而做的一系列調(diào)節(jié)工作
故障描述：縮略圖圖像出現(xiàn)明顯的陰影、重合或者圖片之間有明顯間隙，給NG
查看、指定位置以及視覺(jué)效果帶來(lái)影響。
故障分析：經(jīng)過(guò)多次試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，縮略圖之所以出現(xiàn)這種情況是因?yàn)橄鄼C(jī)標(biāo)定參數(shù)未完全符合軟件要求的精度。AOI軟件要求X軸參數(shù)與Y軸參數(shù)相差不能太大，否則出現(xiàn)圖片拼接產(chǎn)生間隙等問(wèn)題。譬如：AOI要求X象限在30mm-40mm處抓取**幅圖片，然后在40mm-50mm處抓取**幅圖像，但如果標(biāo)定中X軸的搜索范圍過(guò)大，就導(dǎo)致了AOI在抓取**幅圖片時(shí)在41mm-50mm處，因此就空下了1mm的間隙，依次類推……。（該故障正在做進(jìn)一步改善）
解決方法：1、AOI行走速度。因?yàn)閳D像始終在運(yùn)動(dòng)中拍攝，如果速度過(guò)快也將產(chǎn)生該故障，因此需要在系統(tǒng)設(shè)置 *大速度 設(shè)置為“500”
2、標(biāo)定相機(jī)。在PCBA上選擇一個(gè)0402或以下的元件（電阻*佳），旁邊無(wú)類似形狀和顏色的物體進(jìn)行標(biāo)定，標(biāo)定前先做好當(dāng)前參數(shù)的記錄工作（記錄下系統(tǒng)設(shè)置里的相機(jī)標(biāo)定參數(shù)或者標(biāo)定窗口中的參數(shù)）。
標(biāo)定步驟：系統(tǒng)設(shè)置 相機(jī)標(biāo)定 輸入密碼：aleader-aoi進(jìn)行新的標(biāo)定
標(biāo)定完成后，對(duì)比當(dāng)前參數(shù)是否大于之前記錄的參數(shù)，如大于則不保存重新標(biāo)定，如小于之前記錄的參數(shù)則保存。